GB/T2423.1是針對電工電子產(chǎn)品的國標(biāo)低溫試驗標(biāo)準(zhǔn)，等同于國際標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-1。GB/T2423.1低溫試驗的步驟如下：

   1.初步檢測。通過目視檢查和（或）按相關(guān)規(guī)范要求進(jìn)行功能檢測來獲知試驗樣品的初始狀態(tài)。

       2.條件試驗。試驗樣品應(yīng)按相關(guān)規(guī)范的詳細(xì)規(guī)定在低溫條件下暴露至規(guī)定的持續(xù)時間。如果有試驗樣品不能達(dá)到溫度穩(wěn)定的意外情況，整個試驗持續(xù)的時間應(yīng)該從試驗樣品通電時開始計算。通常這種情況是由有長時間工作循環(huán)的樣品引起的。

       3.負(fù)載檢測。試驗相關(guān)規(guī)范可能要求在條件試驗中間或條件試驗結(jié)束時進(jìn)行加負(fù)載和（或）測量。如果要求進(jìn)行這種測量，相關(guān)規(guī)范對這種測量的內(nèi)容及時間間隔進(jìn)行規(guī)定。在這個測量的過程中，試驗樣品不應(yīng)移出試驗箱。

       4.線性升溫操作。如果試驗樣品在試驗期間保持在運行狀態(tài)或負(fù)載狀態(tài)下，應(yīng)在溫度上升前及時斷電或卸掉負(fù)載。但試驗Ae不需要進(jìn)行此操作，因為該試驗要求試驗樣品在整個恢復(fù)期間保持通電運行狀態(tài)。

　　當(dāng)規(guī)定的試驗持續(xù)期間結(jié)束時，將驗樣品保持在試驗箱內(nèi)，然后將箱內(nèi)溫度慢慢升至試驗標(biāo)準(zhǔn)條件的溫度偏差范圍內(nèi)。根據(jù)試驗要求，試驗箱內(nèi)的溫度變化應(yīng)不超過1K／min。

       5.恢復(fù)試驗。樣品應(yīng)在試驗箱內(nèi)經(jīng)過恢復(fù)過程，應(yīng)采取合適的步驟按要求去除水滴，且不損傷試驗樣品。試驗樣品應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境條件下恢復(fù)，恢復(fù)時間至少要達(dá)到一個小時，讓溫度能夠達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)。如果有相關(guān)規(guī)范的要求，試驗樣品應(yīng)在恢復(fù)期間連續(xù)通電并測量。如果上述標(biāo)準(zhǔn)條件不適用于待檢測的試驗樣品，相關(guān)規(guī)范可以制定一些其他的恢復(fù)條件。

6.最后檢測。在檢測結(jié)束時應(yīng)對試驗樣品再一次進(jìn)行目視檢查以及相關(guān)規(guī)范要求的性能檢測。