一種基于偽失效壽命的LED可靠性快速評價(jià)方法
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上傳人：郭偉玲、樊星、崔德勝、吳國慶、俞鑫 上傳時(shí)間： 2013-04-16 瀏覽次數(shù)： 47 |
| 作者 | 郭偉玲、樊星、崔德勝、吳國慶、俞鑫 |
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| 單位 | 北京工業(yè)大學(xué)光電子技術(shù)省部共建教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室 |
| 分類號 | TN312.8 |
| 發(fā)表刊物 | 《發(fā)光學(xué)報(bào)》 |
| 發(fā)布時(shí)間 | 2013年 |
摘要：提出一種快速評價(jià)LED可靠性的有效方法。通過測試LED樣品的偽失效壽命,結(jié)合Minitab軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)分析,確定全部樣品的偽失效壽命服從二參數(shù)的威布爾分布。通過計(jì)算威布爾分布尺度參數(shù),比較不同樣品的尺度參數(shù)來評價(jià)產(chǎn)品的可靠性。該方法對LED的可靠性評價(jià)和壽命預(yù)測有一定的參考價(jià)值。
1引言隨著電子信息技術(shù)應(yīng)用的日益廣泛,各種電子產(chǎn)品對現(xiàn)代社會(huì)的影響日益增大,產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的復(fù)雜以及使用條件的嚴(yán)苛使得產(chǎn)品發(fā)生故障及潛在失效的可能性越來越大,可靠性已經(jīng)成為電子產(chǎn)品最重要的質(zhì)量指標(biāo)。傳統(tǒng)意義的可靠性評估主要是基于數(shù)理統(tǒng)計(jì)和壽命試驗(yàn)形成的一套理論方
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